Xradia Context
Su sistema de rayos X para el presente, con garantía para el futuro.
ZEISS Xradia Context es un sistema de tomografía de rayos X 3D, no destructivo, de gran campo de visual. Con una platina robusta y un posicionamiento flexible de la fuente y detector controlado por software, puede obtener imágenes de muestras grandes, pesadas (25 kg) y altas, en su contexto 3D completo, así como muestras pequeñas con alta resolución y detalle.
Detalles
- Obtenga datos 3D sobre componentes electrónicos intactos enteros, grandes muestras de materias primas o muestras biológicas.
- Realice un análisis de falla no destructiva para identificar defectos internos sin cortar su muestra o pieza de trabajo.
- Caracterice y cuantifique las heterogeneidades que definen el rendimiento en sus materiales, como porosidad, grietas, inclusiones, defectos o fases múltiples.
- Realizar estudios evolutivos 4D, a través del tratamiento ex situ o la manipulación de muestras in situ.
- Conéctese al entorno de microscopía correlativa ZEISS y realice imágenes 3D no destructivas para identificar regiones de interés para la posterior imagen de microscopía electrónica 2D o 3D de alta resolución.
