Familia Xradia Versa
Microscopía de rayos X 3D para obtener imágenes submicrónicas más rápidas de muestras intactas.
La familia Xradia Versa de microscopios de rayos X submicrónicos utiliza detectores de rayos X patentados dentro de una torre de objetivos de microscopio para permitir una mayor magnificación en varios tipos y tamaños de muestra, y empuja la resolución espacial a 500 nm, con tamaño mínimo de voxel alcanzable menor a los 40 nm.
Detalles
- Caracterice las propiedades y comportamientos de sus materiales de manera no destructiva.
- Revelar detalles de microestructuras en tres dimensiones (3D).
- Desarrollar y confirmar modelos o visualizar detalles estructurales.
- Logre imágenes de alto contraste y resolución submicrométrica incluso para muestras relativamente grandes.
